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周向便攜式X射線探傷機(jī)的使用原理

更新時(shí)間:2018-03-22點(diǎn)擊次數(shù):3498

應(yīng)用概述:射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的種
無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)缺陷,如焊縫中的氣孔、夾渣、
未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有的性,即檢驗(yàn)缺陷的直觀性、準(zhǔn)確性和可
靠性,而且,得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。
使用原理:根據(jù)被檢件與其內(nèi)缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度的不同,使得射線透過件后
的強(qiáng)度不同,使缺陷能在射線底片上顯示出來。
應(yīng)用范圍:對(duì)非金屬、輕金屬、鑄件、各種合金、壓力容器等行 X 射線無損檢測

輻射方式:定向輻射 光管材質(zhì):陶瓷光管

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