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便攜式電阻測試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測試儀 型號:KDK-KDY-1B便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
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便攜式電阻測試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測試儀 型號:KDK-KDY-1B
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
便攜式電阻測試儀 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的際及家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定。
它主要由電器測量份(主機(jī))及四探頭組成,需要時(shí)可加配測試架。
為減小體積,本儀器用同塊數(shù)字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供,隨時(shí)可行校準(zhǔn),以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1~100Ω·cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量誤差不過±5%,在此范圍內(nèi)達(dá)到家標(biāo)準(zhǔn)二機(jī)的水平。
2、測試儀結(jié)構(gòu)及原理
測試主機(jī)由主機(jī)板、前面板、后背板及機(jī)箱組成,數(shù)字表、測試電換檔開關(guān)、電阻率/方阻轉(zhuǎn)換開關(guān)、校準(zhǔn)/測量變換開關(guān)以及電調(diào)節(jié)電位器均裝在前面板上。后背板上只裝有電源、電源開關(guān)、保險(xiǎn)管及四探針連接。機(jī)箱底板上字裝了主機(jī)板。前后面板與主機(jī)板之間的聯(lián)接均采用接插件,便于拆卸維修。
參數(shù):
測量范圍:
可測量電阻率:0.1~1999Ω·cm。
可測方塊電阻: 1~19990Ω/□
當(dāng)被測材料電阻率≥1999Ω·cm數(shù)字表顯示0.00。
(2)恒源:
輸出電:DC 0.01mA~1mA分兩檔
0.1mA量程:0.01~1mA 連續(xù)可調(diào)
1mA量程:0.1mA ~1mA連續(xù)可調(diào)
恒度:各檔均優(yōu)于±0.1%
(1) 直數(shù)字電壓表
測量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準(zhǔn)確度:0.2%(±2個(gè)字)
(2) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 率8W
(3) 使用環(huán)境:
相對濕度≤80%
(4) 重量、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×100×深240(mm)
010-51655247